20.10.2011

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Werth Messtechnik: Oberflächen hochgenau berührungslos messen

Nach Ansicht der Werth Messtechnik GmbH geraten viele optische Messverfahren beim Messen von polierten Oberflächen an die Grenze ihrer Leistungsfähigkeit. Für diese zumeist hochgenauen Bauteile, wie sie z.B. in der Feinoptik, der Elektronikfertigung und im Werkzeugbau vorkommen, könne das Unternehmen nun eine kombinierte Lösung aus Gerätetechnik und Sensorik anbieten.

Entsprechende Messaufgaben meistere der Werth Chromatic Focus Probe (CFP) in Kombination mit zum Beispiel dem Multisensor-Koordinatenmessgerät Werth VideoCheck® UA. Dieses Messgerät biete die korrekte Basis für solche Anwendungen aufgrund seiner geringen Längenmessabweichung (MPEE1=(0,15+L/900) μm).

Das physikalische Messprinzip des Werth Chromatic Focus Probe (CFP) erlaubt es den Angaben zufolge, Messgrößen nahezu unabhängig von der Oberflächenbeschaffenheit aufzunehmen. Für unterschiedliche Anforderungen an Genauigkeit, Oberflächenneigung und Messgeschwindigkeit stünden entsprechende Sensorköpfe zur Verfügung. Die Bedienung erfolge über die bewährte WinWerth® Software.